par Barroo, Cédric ;Visart de Bocarmé, Thierry
Référence Microscopy & Microanalysis 2016 (24-07-2016 - 28-07-2016: Columbus, OH, USA)
Publication Non publié, 2016-07-24
Communication à un colloque
Titre:
  • Field Ion Microscopy and Pulsed Field Desorption Mass Spectrometry: Unique Tools for Surface and Subsurface Analysis
Auteur:Barroo, Cédric; Visart de Bocarmé, Thierry
Informations sur la publication:Microscopy & Microanalysis 2016 (24-07-2016 - 28-07-2016: Columbus, OH, USA)
Statut de publication:Non publié, 2016-07-24
Sujet CREF:Catalyses hétérogène et homogène
Langue:Français