Field Ion Microscopy and Pulsed Field Desorption Mass Spectrometry: Unique Tools for Surface and Subsurface Analysis

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Référence Microscopy and microanalysis, 22, page (378)
Publication Publié, 2016-07-25

Article révisé par les pairs

Titre:	Field Ion Microscopy and Pulsed Field Desorption Mass Spectrometry: Unique Tools for Surface and Subsurface Analysis
Auteur:	Barroo, Cédric; Visart de Bocarmé, Thierry
Informations sur la publication:	Microscopy and microanalysis, 22, page (378)
Statut de publication:	Publié, 2016-07-25
Sujet CREF:	Physique des phénomènes non linéaires
	Chimie
	Sciences exactes et naturelles
	Catalyses hétérogène et homogène
	Chimie des surfaces et des interfaces
	Cinétique chimique
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:1431-9276
	info:doi/10.1017/S1431927616002749

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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