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Size dependent fracture strength and cracking mechanisms in freestanding polycrystalline silicon films with nanoscale thickness

par Vayrette, Renaud;Galceran Mestres, Montserrat ;Coulombier, Michael;Godet, Stéphane ;Raskin, Jean-Pierre;Pardoen, Thomas
Référence Engineering fracture mechanics, 168, page (190-203)
Publication Publié, 2016-12

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Titre:	Size dependent fracture strength and cracking mechanisms in freestanding polycrystalline silicon films with nanoscale thickness
Auteur:	Vayrette, Renaud; Galceran Mestres, Montserrat; Coulombier, Michael; Godet, Stéphane; Raskin, Jean-Pierre; Pardoen, Thomas
Informations sur la publication:	Engineering fracture mechanics, 168, page (190-203)
Statut de publication:	Publié, 2016-12
Sujet CREF:	Mécanique sectorielle
	Métallurgie et mines
	Technologie des autres industries
Mots-clés:	Fracture mechanisms
	Polycrystalline silicon
	Size effect
	Tensile test
	Thin film
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0013-7944
	info:doi/10.1016/j.engfracmech.2016.10.003
	info:pii/S0013794416304544
	info:scp/84995571079