par Roose, N.;Ye, Min
;Vereecken, Jean
;Seibt, EW
Référence Surface and interface analysis, 21, 6-7, page (474-482)
Publication Publié, 1994
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Référence Surface and interface analysis, 21, 6-7, page (474-482)
Publication Publié, 1994
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Roose, N.; Ye, Min; Vereecken, Jean; Seibt, EW |
Informations sur la publication: | Surface and interface analysis, 21, 6-7, page (474-482) |
Statut de publication: | Publié, 1994 |
Sujet CREF: | Physique de l'état condense [supraconducteur] |
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
Physique des surfaces | |
Chimie | |
Métallurgie | |
Chimie des solides | |
Note générale: | SCOPUS: ar.j |
FLWNA | |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:0142-2421 |
info:doi/10.1002/sia.740210627 | |
info:scp/0028442996 |