par Roose, N.;Ye, Min 
;Vereecken, Jean ;Seibt, EW
Référence Surface and interface analysis, 21, 6-7, page (474-482)
Publication Publié, 1994
;Vereecken, Jean ;Seibt, EWRéférence Surface and interface analysis, 21, 6-7, page (474-482)
Publication Publié, 1994
Article révisé par les pairs
| Titre: |
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| Auteur: | Roose, N.; Ye, Min; Vereecken, Jean; Seibt, EW |
| Informations sur la publication: | Surface and interface analysis, 21, 6-7, page (474-482) |
| Statut de publication: | Publié, 1994 |
| Sujet CREF: | Physique de l'état condense [supraconducteur] |
| Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
| Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
| Physique des surfaces | |
| Chimie | |
| Métallurgie | |
| Chimie des solides | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| FLWNA | |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0142-2421 |
| info:doi/10.1002/sia.740210627 | |
| info:scp/0028442996 |
