par Roussel, Alain;Neve, Jean ;Hinninger, I.
Editeur scientifique Delattre, J.;Beaudeux, J. L.;Bonnefont-Rousselot, D.
Référence Radicaux libres et stress oxydant, aspects biologiques et pathologiques, Tec et Doc, Lavoisier, Paris, page (261-280)
Publication Publié, 2005
Editeur scientifique Delattre, J.;Beaudeux, J. L.;Bonnefont-Rousselot, D.
Référence Radicaux libres et stress oxydant, aspects biologiques et pathologiques, Tec et Doc, Lavoisier, Paris, page (261-280)
Publication Publié, 2005
Partie d'ouvrage collectif
Titre: |
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Auteur: | Roussel, Alain; Neve, Jean; Hinninger, I. |
Editeur scientifique: | Delattre, J.; Beaudeux, J. L.; Bonnefont-Rousselot, D. |
Informations sur la publication: | Radicaux libres et stress oxydant, aspects biologiques et pathologiques, Tec et Doc, Lavoisier, Paris, page (261-280) |
Statut de publication: | Publié, 2005 |
Sujet CREF: | Nutrition |
Pharmacologie | |
Mots-clés: | sciences |
Langue: | Français |
Identificateurs: | urn:isbn:2743007001 |
nj-0017 |