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Answering the call for more accountability: Applying data profiling to museum metadata

par Van Hooland, Seth ;Bontemps, Yves ;Kaufman, Seth
Référence Proceedings of the International Conference on Dublin Core and Metadata Applications, page (93-103)
Publication Publié, 2008

Article révisé par les pairs

• Détails
• Contenu

Titre:	Answering the call for more accountability: Applying data profiling to museum metadata
Auteur:	Van Hooland, Seth; Bontemps, Yves; Kaufman, Seth
Informations sur la publication:	Proceedings of the International Conference on Dublin Core and Metadata Applications, page (93-103)
Statut de publication:	Publié, 2008
Sujet CREF:	Technologies de l'information et de la communication (TIC)
Mots-clés:	Collection management software
	Data-profiling
	Metadata quality
Note générale:	SCOPUS: cp.p
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:1939-1358
	info:scp/79952289107