AUGER ELECTRON SPECTROMETRY OF POROUS LAYERS OF ANODIZED ALUMINIUM.

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Référence Thin films science and technology, page (747-752)
Publication Publié, 1983

Article révisé par les pairs

Titre:	AUGER ELECTRON SPECTROMETRY OF POROUS LAYERS OF ANODIZED ALUMINIUM.
Auteur:	Terryn, Herman; Vereecken, Jean
Informations sur la publication:	Thin films science and technology, page (747-752)
Statut de publication:	Publié, 1983
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
Note générale:	SCOPUS: cp.p
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0168-2075
	info:scp/0021001272

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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