Electrical characterization of epitaxial Bi:2201 thin films deposited on MgO substrates using inverted cylindrical magnetron sputtering

Référence Modern physics letters B, 16, 4, page (127-133)
Publication Publié, 2002-02

Article révisé par les pairs

Titre:	Electrical characterization of epitaxial Bi:2201 thin films deposited on MgO substrates using inverted cylindrical magnetron sputtering
Auteur:	Pop, Aurel; Ilonca, Gh; Mariana, P.O.P.; Deltour, Robert
Informations sur la publication:	Modern physics letters B, 16, 4, page (127-133)
Statut de publication:	Publié, 2002-02
Sujet CREF:	Physique de l'état condense [supraconducteur]
	Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
	Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
	Physique des phénomènes non linéaires
	Physique statistique classique et relativiste
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0217-9849
	info:doi/10.1142/S0217984902003567
	info:scp/0037138881

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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