Thin film analysis of chromium-phosphate conversion coatings on aluminum probed by ToF-SIMS and electron probe X-ray analysis

Référence Surface and interface analysis, 30, 1, page (589-591)
Publication Publié, 2000-08

Article révisé par les pairs

Titre:	Thin film analysis of chromium-phosphate conversion coatings on aluminum probed by ToF-SIMS and electron probe X-ray analysis
Auteur:	Cuynen, Erik; Goeminne, Gudrun; Van Espen, Pierre; Terryn, Herman
Informations sur la publication:	Surface and interface analysis, 30, 1, page (589-591)
Statut de publication:	Publié, 2000-08
Sujet CREF:	Physique de l'état condense [supraconducteur]
	Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
	Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
	Physique des surfaces
	Chimie
	Métallurgie
	Chimie des solides
Note générale:	SCOPUS: ar.j
	FLWIN
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0142-2421
	info:doi/10.1002/1096-9918(200008)30:1<589::AID-SIA706>3.0.CO;2-N
	info:scp/0034244727

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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