Article révisé par les pairs
Titre:
  • Thin film analysis of chromium-phosphate conversion coatings on aluminum probed by ToF-SIMS and electron probe X-ray analysis
Auteur:Cuynen, Erik; Goeminne, Gudrun; Van Espen, Pierre; Terryn, Herman
Informations sur la publication:Surface and interface analysis, 30, 1, page (589-591)
Statut de publication:Publié, 2000-08
Sujet CREF:Physique de l'état condense [supraconducteur]
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
Physique des surfaces
Chimie
Métallurgie
Chimie des solides
Note générale:SCOPUS: ar.j
FLWIN
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0142-2421
info:doi/10.1002/1096-9918(200008)30:1<589::AID-SIA706>3.0.CO;2-N
info:scp/0034244727