par Henry, Frédéric
;Duluard, Corinne
;Batan, Abdelkrim
;Reniers, François 
Référence Thin solid films, 520, 20, page (6386-6392)
Publication Publié, 2012-08
;Duluard, Corinne
;Batan, Abdelkrim
;Reniers, François 
Référence Thin solid films, 520, 20, page (6386-6392)
Publication Publié, 2012-08
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Henry, Frédéric; Duluard, Corinne; Batan, Abdelkrim; Reniers, François |
| Informations sur la publication: | Thin solid films, 520, 20, page (6386-6392) |
| Statut de publication: | Publié, 2012-08 |
| Sujet CREF: | Métallurgie |
| Physique de l'état solide | |
| Physique des surfaces | |
| Chimie des solides | |
| Mots-clés: | Optical emission spectroscopy |
| Plasma magnetron | |
| Silicon nitride | |
| X-ray photoelectron spectroscopy | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0040-6090 |
| info:doi/10.1016/j.tsf.2012.06.048 | |
| info:pii/S0040609012007584 | |
| info:scp/84863982316 |



