par Page, Robert;Vancraeynest, G.;Shotter, Alan C.;Huyse, Mark;Bain, C. R.;Binon, Freddy 
;Coszach, R.;Davinson, Thomas;Decrock, Patrick;Delbar, Th;Duhamel, Paul ;Gaelens, Michel;Galster, Wilfried;Leleux, Pol;Licot, I.;Liénard, Etienne;Lipnik, Peter;Michotte, C.;Ninane, A.;Sellin, Paul;Sükösd, Cs;Van Duppen, Piet;Vanhorenbeeck, Jean ;Vervier, Jean;Wiescher, Michael;Woods, P.J.
Référence Physical review letters, 73, 23, page (3066-3069)
Publication Publié, 1994
;Coszach, R.;Davinson, Thomas;Decrock, Patrick;Delbar, Th;Duhamel, Paul ;Gaelens, Michel;Galster, Wilfried;Leleux, Pol;Licot, I.;Liénard, Etienne;Lipnik, Peter;Michotte, C.;Ninane, A.;Sellin, Paul;Sükösd, Cs;Van Duppen, Piet;Vanhorenbeeck, Jean ;Vervier, Jean;Wiescher, Michael;Woods, P.J.Référence Physical review letters, 73, 23, page (3066-3069)
Publication Publié, 1994
Article révisé par les pairs
