par Veis, Pavel V.P.;Macko, Peter ;Jašík, Juraj
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 6609, 660905
Publication Publié, 2007
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 6609, 660905
Publication Publié, 2007
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Veis, Pavel V.P.; Macko, Peter; Jašík, Juraj |
Informations sur la publication: | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 6609, 660905 |
Statut de publication: | Publié, 2007 |
Sujet CREF: | Informatique appliquée logiciel |
Mathématiques | |
Electronique et électrotechnique | |
Métallurgie | |
Physique de l'état solide | |
Physique de l'état condense [supraconducteur] | |
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
Mots-clés: | Actinometry |
Cavity ring-down spectroscopy | |
Dissociative degree | |
Emission spectroscopy | |
Laser absorption spectroscopy | |
Nitrogen | |
Oxygen | |
Radiofrequency discharge | |
Recombination of atoms | |
Vacuum ultraviolet absorption spectroscopy | |
Note générale: | SCOPUS: cp.p |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:0277-786X |
info:doi/10.1117/12.739366 | |
info:scp/36248995148 |