par Veis, Pavel V.P.;Macko, Peter
;Jašík, Juraj
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 6609, 660905
Publication Publié, 2007
;Jašík, JurajRéférence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 6609, 660905
Publication Publié, 2007
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Veis, Pavel V.P.; Macko, Peter; Jašík, Juraj |
| Informations sur la publication: | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 6609, 660905 |
| Statut de publication: | Publié, 2007 |
| Sujet CREF: | Informatique appliquée logiciel |
| Mathématiques | |
| Electronique et électrotechnique | |
| Métallurgie | |
| Physique de l'état solide | |
| Physique de l'état condense [supraconducteur] | |
| Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
| Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
| Mots-clés: | Actinometry |
| Cavity ring-down spectroscopy | |
| Dissociative degree | |
| Emission spectroscopy | |
| Laser absorption spectroscopy | |
| Nitrogen | |
| Oxygen | |
| Radiofrequency discharge | |
| Recombination of atoms | |
| Vacuum ultraviolet absorption spectroscopy | |
| Note générale: | SCOPUS: cp.p |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0277-786X |
| info:doi/10.1117/12.739366 | |
| info:scp/36248995148 |



