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Two-level blackout probabilistic risk analysis: application to a test system

par Henneaux, Pierre ;Faghihi, Farshid ;Labeau, Pierre-Etienne ;Maun, Jean Claude ;Haarla, Liisa
Référence (29 sep - 2 oct: Amsterdam, Netherlands), Proceedings of the ESREL 2013 Conference
Publication Publié, 2013-10

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