par Henneaux, Pierre ;Faghihi, Farshid ;Labeau, Pierre-Etienne ;Maun, Jean Claude ;Haarla, Liisa
Référence (29 sep - 2 oct: Amsterdam, Netherlands), Proceedings of the ESREL 2013 Conference
Publication Publié, 2013-10
Publication dans des actes
Titre:
  • Two-level blackout probabilistic risk analysis: application to a test system
Auteur:Henneaux, Pierre; Faghihi, Farshid; Labeau, Pierre-Etienne; Maun, Jean Claude; Haarla, Liisa
Informations sur la publication:(29 sep - 2 oct: Amsterdam, Netherlands), Proceedings of the ESREL 2013 Conference
Statut de publication:Publié, 2013-10
Sujet CREF:Sciences de l'ingénieur
Electricité courants forts
Réseaux électriques
Langue:N/A

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