Two-level blackout probabilistic risk analysis: application to a test system

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;Haarla, Liisa
Référence (29 sep - 2 oct: Amsterdam, Netherlands), Proceedings of the ESREL 2013 Conference
Publication Publié, 2013-10

Publication dans des actes

Titre:	Two-level blackout probabilistic risk analysis: application to a test system
Auteur:	Henneaux, Pierre; Faghihi, Farshid; Labeau, Pierre-Etienne; Maun, Jean Claude; Haarla, Liisa
Informations sur la publication:	(29 sep - 2 oct: Amsterdam, Netherlands), Proceedings of the ESREL 2013 Conference
Statut de publication:	Publié, 2013-10
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
	Electricité courants forts
	Réseaux électriques
Langue:	N/A

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