Automatic crystallographic characterization in a transmission electron microscope : Applications to twinning induced plasticity steels and al thin films

Référence Microscopy and microanalysis, 19, 3, page (693-697)
Publication Publié, 2013

Article révisé par les pairs

Titre:	Automatic crystallographic characterization in a transmission electron microscope : Applications to twinning induced plasticity steels and al thin films
Auteur:	Galceran Mestres, Montserrat; Albou, Adeline; Renard, Krystel; Coulombier, M.; Jacques, P.J.; Godet, Stéphane
Informations sur la publication:	Microscopy and microanalysis, 19, 3, page (693-697)
Statut de publication:	Publié, 2013
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
Mots-clés:	electron diffraction
	orientation mapping
	thin films
	transmission electron microscopy
	twinning
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:1431-9276
	info:doi/10.1017/S1431927613000445
	info:pii/S1431927613000445
	info:scp/84877961205

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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