Experimental influence of the base load effect on SiGe/Si and InGaAs/InP HPTs

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Publication dans des actes

Titre:	Experimental influence of the base load effect on SiGe/Si and InGaAs/InP HPTs
Auteur:	Schiellein, Julien; Rosales, Marc D; Polleux, Jean-Luc; Duport, Francois; Algani, Catherine; Rumelhard, Christian; Merlet, Thomas; Zerounian, Nicolas; Riet, Muriel; Godin, Jean Cléo; Scavennec, André
Informations sur la publication:	Microwave Photonics (MWP) International Topical Meeting on
Statut de publication:	Publié, 2009
Sujet CREF:	Optique non linéaire
	Optique des fibres (électromagnétisme)
	Optique
	Hyperfréquences
	Circuits intégrés
Langue:	Anglais

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Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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