TEM and X-ray diffraction investigation of the structural characteristics of the microporous oxide film formed on polycrystalline Ti

Référence Scripta materialia, 48, 1, page (23-29)
Publication Publié, 2003-01

Article révisé par les pairs

Titre:	TEM and X-ray diffraction investigation of the structural characteristics of the microporous oxide film formed on polycrystalline Ti
Auteur:	Gueneau De Mussy Uauy, Jean-Paul; Langelaan, Gijs; Decerf, Jacqueline; Delplancke, Jean-Luc
Informations sur la publication:	Scripta materialia, 48, 1, page (23-29)
Statut de publication:	Publié, 2003-01
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
Mots-clés:	TEM
	Texture
	TiO2
	Titanium
	X-ray diffraction
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:1359-6462
	info:doi/10.1016/S1359-6462(02)00323-8
	info:pii/S1359646202003238
	info:scp/0037209894

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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