Article révisé par les pairs
Titre :
  • Use of the electronic pattern speckle interferometry for temperature distribution measurement through liquids
Auteur : Dupont, Olivier ; Dewandel, Jean-Luc ; Legros, Jean Claude
Informations sur la publication : Optics Letters, 20, 17, (page 1824-1826)
Statut de publication : Publié, 1995
Sujet CREF : Sciences de l'ingénieur
Instrumentation
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:0146-9592