Use of the electronic pattern speckle interferometry for temperature distribution measurement through liquids

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Référence Optics Letters, 20, 17, page (1824-1826)
Publication Publié, 1995

Article révisé par les pairs

Titre:	Use of the electronic pattern speckle interferometry for temperature distribution measurement through liquids
Auteur:	Dupont, Olivier; Dewandel, Jean-Luc; Legros, Jean Claude
Informations sur la publication:	Optics Letters, 20, 17, page (1824-1826)
Statut de publication:	Publié, 1995
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
	Instrumentation
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0146-9592

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