par Dubus, Alain ;Devooght, Jacques ;Dehaes, Jean-Claude
Référence Scanning microscopy 1993 meetings (8-13 May 1993: Los Angeles, USA)
Publication Non publié, 1993
Communication à un colloque
Titre:
  • Comparisons of transport descriptions for secondary electron emission
Auteur:Dubus, Alain; Devooght, Jacques; Dehaes, Jean-Claude
Informations sur la publication:Scanning microscopy 1993 meetings (8-13 May 1993: Los Angeles, USA)
Statut de publication:Non publié, 1993
Sujet CREF:Sciences de l'ingénieur
Langue:Anglais