Comparisons of transport descriptions for secondary electron emission

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Référence Scanning microscopy 1993 meetings (8-13 May 1993: Los Angeles, USA)
Publication Non publié, 1993

Communication à un colloque

Titre:	Comparisons of transport descriptions for secondary electron emission
Auteur:	Dubus, Alain; Devooght, Jacques; Dehaes, Jean-Claude
Informations sur la publication:	Scanning microscopy 1993 meetings (8-13 May 1993: Los Angeles, USA)
Statut de publication:	Non publié, 1993
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
Langue:	Anglais

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