par Barroo, Cédric ;Magyar, Andrew A.P.;Akey, Austin J;Bell, David C
Référence Microscopy & Microanalysis 2016 (24-07-2016 - 28-07-2016: Colombus, OH, USA)
Publication Non publié, 2016-07-24
Poster de conférence
Titre:
  • Preparation and Characterization of Eu-Doped Diamond Samples by Atom Probe Tomography
Auteur:Barroo, Cédric; Magyar, Andrew A.P.; Akey, Austin J; Bell, David C
Informations sur la publication:Microscopy & Microanalysis 2016 (24-07-2016 - 28-07-2016: Colombus, OH, USA)
Statut de publication:Non publié, 2016-07-24
Sujet CREF:Instrumentation et méthodes en physique
Physique des surfaces
Langue:Français