par Buchal, Ch.; Delplancke, Jean-Luc Liste de publications; Wolff, Michel; Elfenthal, Lothar; Schultze, Joachim Walter
Référence Radiation effects and defects in solids, 114, 3, (page 225-237)
Publication Publié, 1990-08
Article révisé par les pairs
Titre :
  • Repassivation and ion migration in pd-Implanted tiO2layers on ti
Auteur : Buchal, Ch. ; Delplancke, Jean-Luc ; Wolff, Michel ; Elfenthal, Lothar ; Schultze, Joachim Walter
Informations sur la publication : Radiation effects and defects in solids, 114, 3, (page 225-237)
Statut de publication : Publié, 1990-08
Sujet CREF : Isotopes et éléments radioactifs
Physique atomique et nucléaire
Physique de l'état condense [supraconducteur]
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
Métallurgie et mines
Mots-clés : anodic polarization
HEED
ion migration
metal-oxide interface
palladium
RBS
recrystallization
repassivation
SEM
TEM
titanium
Note : SCOPUS: ar.j
SCOPUS: ar.j
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:1042-0150 
info:doi/10.1080/10420159008213100
VX-006679