par Buchal, Ch.;Delplancke, Jean-Luc 
;Wolff, Michel;Elfenthal, Lothar;Schultze, Joachim Walter
Référence Radiation effects and defects in solids, 114, 3, page (225-237)
Publication Publié, 1990-08
;Wolff, Michel;Elfenthal, Lothar;Schultze, Joachim WalterRéférence Radiation effects and defects in solids, 114, 3, page (225-237)
Publication Publié, 1990-08
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Buchal, Ch.; Delplancke, Jean-Luc; Wolff, Michel; Elfenthal, Lothar; Schultze, Joachim Walter |
| Informations sur la publication: | Radiation effects and defects in solids, 114, 3, page (225-237) |
| Statut de publication: | Publié, 1990-08 |
| Sujet CREF: | Isotopes et éléments radioactifs |
| Physique atomique et nucléaire | |
| Physique de l'état condense [supraconducteur] | |
| Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
| Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
| Métallurgie et mines | |
| Mots-clés: | anodic polarization |
| HEED | |
| ion migration | |
| metal-oxide interface | |
| palladium | |
| RBS | |
| recrystallization | |
| repassivation | |
| SEM | |
| TEM | |
| titanium | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| SCOPUS: ar.j | |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:1042-0150 |
| info:doi/10.1080/10420159008213100 | |
| info:scp/0012278841 | |
| VX-006679 |
