Article révisé par les pairs
Titre :
  • Quantitative analysis of Ni 2p photoemission in NiO and Ni diluted in a SiO2 matrix
Auteur : Pauly, Nicolas ; Yubero, Francisco ; Vazquez Garcia, José Francisco ; Tougaard, Sven
Informations sur la publication : Surface science, 644, (page 46-52)
Statut de publication : Publié, 2016-02
Sujet CREF : Physique de l'état condense [supraconducteur]
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
Métallurgie
Physique des surfaces
Chimie des solides
Mots-clés : Core-hole effect
Nickel oxide
Non-local screening effect
Photoelectron spectroscopy
Surface effect
XPS
Note : SCOPUS: ar.j
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:0039-6028 
info:doi/10.1016/j.susc.2015.09.012
info:pii/S0039602815002848