Article révisé par les pairs
Titre:
  • Quantitative analysis of Ni 2p photoemission in NiO and Ni diluted in a SiO2 matrix
Auteur:Pauly, Nicolas; Yubero, Francisco; Vazquez Garcia, José Francisco; Tougaard, Sven
Informations sur la publication:Surface science, 644, page (46-52)
Statut de publication:Publié, 2016-02
Sujet CREF:Physique de l'état condense [supraconducteur]
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
Métallurgie
Physique des surfaces
Chimie des solides
Mots-clés:Core-hole effect
Nickel oxide
Non-local screening effect
Photoelectron spectroscopy
Surface effect
XPS
Note générale:SCOPUS: ar.j
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0039-6028
info:doi/10.1016/j.susc.2015.09.012
info:pii/S0039602815002848
info:scp/84943619145