XPS quantification with universal inelastic electron scattering cross section including intrinsic excitations

;Kang, H.J.;Tougaard, Sven
Référence Surface and interface analysis
Publication Publié, 2022-11-01

Article révisé par les pairs

Titre:	XPS quantification with universal inelastic electron scattering cross section including intrinsic excitations
Auteur:	Gnacadja, Sédjio Eustache; Pauly, Nicolas; Kang, H.J.; Tougaard, Sven
Informations sur la publication:	Surface and interface analysis
Statut de publication:	Publié, 2022-11-01
Sujet CREF:	Chimie des solides
	Métallurgie
	Chimie
	Physique des surfaces
	Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
	Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
	Physique de l'état condense [supraconducteur]
Mots-clés:	intrinsic excitations
	photoelectron spectroscopy
	quantification
	universal cross section
	XPS
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0142-2421
	info:doi/10.1002/sia.7142
	info:scp/85135637032

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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