Titre :
  • Thin film analysis of chromium-phosphate conversion coatings on aluminum probed by ToF-SIMS and electron probe X-ray analysis
Auteur : Cuynen, Erik E. ; Goeminne, Gudrun G. ; Van Espen, Pierre P. ; Terryn, Herman
Informations sur la publication : Surface and interface analysis, 30, 1, (page 589-591)
Statut de publication : Publié, 2000-08
Sujet CREF : Physique de l'état condense [supraconducteur]
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
Physique des surfaces
Chimie
Métallurgie
Chimie des solides
Note : SCOPUS: ar.j
FLWIN
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:0142-2421 
info:doi/10.1002/1096-9918(200008)30:1<589::AID-SIA706>3.0.CO;2-N