Titre :
  • Auger line relative intensities as a tool for the characterization of oxides formed during the oxidation of single crystals of dilute cu-mn alloys.
Auteur : Van Steene, G. ; Jardinier, Marcelle ; Bouillon, Florent
Informations sur la publication : Surface and interface analysis, 11, 12, (page 599-604)
Statut de publication : Publié, 1988-09
Sujet CREF : Physique de l'état condense [supraconducteur]
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
Physique des surfaces
Chimie
Métallurgie
Chimie des solides
Note : SCOPUS: ar.j
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:0142-2421