Auger line relative intensities as a tool for the characterization of oxides formed during the oxidation of single crystals of dilute Cu-Mn alloys.

Référence Surface and interface analysis, 11, 12, page (599-604)
Publication Publié, 1988-09

Article révisé par les pairs

Titre:	Auger line relative intensities as a tool for the characterization of oxides formed during the oxidation of single crystals of dilute Cu-Mn alloys.
Auteur:	Van Steene, G.; Jardinier, Marcelle; Bouillon, Florent
Informations sur la publication:	Surface and interface analysis, 11, 12, page (599-604)
Statut de publication:	Publié, 1988-09
Sujet CREF:	Physique de l'état condense [supraconducteur]
	Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
	Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
	Physique des surfaces
	Chimie
	Métallurgie
	Chimie des solides
Note générale:	SCOPUS: ar.j
	FLWNA
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0142-2421
	info:doi/10.1002/sia.740111204
	info:scp/0024082575

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
Les publications encodées constituent la bibliographie académique de l'Université.	Les documents déposés sont indexés par les moteurs de recherche (Google Scholar,…).	Les documents déposés en open-access sont archivés au sein du réseau de préservation SAFE-PLN (www.safepln.org).	Les listes de publications sont compatibles avec le CV-ULB, le FNRS et accessibles sur le web.