par Tolochko, N.K.;Mialdun, Aliaksndr
;Shienok, Yu. A.;Laoui, T.;Onofrio, G.;Signorelly, E.
Editeur scientifique Tolochko, N.K.;Shienok, Yu. A.;Laoui, T.;Onofrio, G.;Signorelly, E.;Veiko, V.P.
Référence Proc. SPIE(2003), Laser-Assisted Micro- and Nanotechnologies, Vol. 5399, page (192-196)
Publication Publié, 2004

Editeur scientifique Tolochko, N.K.;Shienok, Yu. A.;Laoui, T.;Onofrio, G.;Signorelly, E.;Veiko, V.P.
Référence Proc. SPIE(2003), Laser-Assisted Micro- and Nanotechnologies, Vol. 5399, page (192-196)
Publication Publié, 2004
Publication dans des actes
Titre: |
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Auteur: | Tolochko, N.K.; Mialdun, Aliaksndr; Shienok, Yu. A.; Laoui, T.; Onofrio, G.; Signorelly, E. |
Editeur scientifique: | Tolochko, N.K.; Shienok, Yu. A.; Laoui, T.; Onofrio, G.; Signorelly, E.; Veiko, V.P. |
Informations sur la publication: | Proc. SPIE(2003), Laser-Assisted Micro- and Nanotechnologies, Vol. 5399, page (192-196) |
Statut de publication: | Publié, 2004 |
Sujet CREF: | Mécanique des fluides |
Physico-chimie générale | |
Langue: | Anglais |