par Paquot, Yvan
;Schrauwen, Benjamin;Dambre, Joni;Haelterman, Marc
;Massar, Serge 
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, Vol. 7728, page (77280)
Publication Publié, 2010



Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, Vol. 7728, page (77280)
Publication Publié, 2010
Publication dans des actes
Fichier(s) déposé(s) par l'encodeur |