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Caractérisation en amplitude et en phase d'impulsions optiques brèves et ultrabrèves à l'aide de détecteurs linéaires rapides

par Kockaert, Pascal ;Haelterman, Marc ;Emplit, Philippe ;Froehly, Claude
Référence JNOG'2002(September 23-25, 2002: Dijon (France)), 21èmes Journées Nationales d'Optique Guidée, ESISAR-INPG, page (57-59)
Publication Publié, 2003

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Titre:	Caractérisation en amplitude et en phase d'impulsions optiques brèves et ultrabrèves à l'aide de détecteurs linéaires rapides
Auteur:	Kockaert, Pascal; Haelterman, Marc; Emplit, Philippe; Froehly, Claude
Informations sur la publication:	JNOG'2002(September 23-25, 2002: Dijon (France)), 21èmes Journées Nationales d'Optique Guidée, ESISAR-INPG, page (57-59)
Statut de publication:	Publié, 2003
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
Langue:	Français