par Legros, Jean Claude
;Van Vaerenbergh, Stefan
;Montel, F.;Goodman, Stephen;Beckaert, G.;Dubois, Frank
;Decroly, Yves
;Van Ransbeek, F.
Référence Entropie, 32, 198-199, page (5-9)
Publication Publié, 1996
;Van Vaerenbergh, Stefan
;Montel, F.;Goodman, Stephen;Beckaert, G.;Dubois, Frank
;Decroly, Yves
;Van Ransbeek, F.Référence Entropie, 32, 198-199, page (5-9)
Publication Publié, 1996
Article révisé par les pairs
| Titre: |
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| Autre titre: |
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| Auteur: | Legros, Jean Claude; Van Vaerenbergh, Stefan; Montel, F.; Goodman, Stephen; Beckaert, G.; Dubois, Frank; Decroly, Yves; Van Ransbeek, F. |
| Informations sur la publication: | Entropie, 32, 198-199, page (5-9) |
| Statut de publication: | Publié, 1996 |
| Sujet CREF: | Sciences de l'ingénieur |
| Instrumentation | |
| Langue: | Français |
| Identificateurs: | urn:issn:0013-9084 |



