Article révisé par les pairs
Titre:
  • Curve fitting of combined comet intensity profiles: A new global concept to quantify DNA damage by the comet assay
Auteur:Dehon, Gilles; Bogaerts, Philippe; Duez, Pierre; Catoire, Laurent; Dubois, Jacques
Informations sur la publication:Chemometrics and intelligent laboratory systems, 73, 2, page (235-243)
Statut de publication:Publié, 2004-10
Sujet CREF:Sciences de l'ingénieur
Mots-clés:Comet assay/single cell gel electrophoresis
Data modelling
DNA damage
Measurements
Statistics
Note générale:SCOPUS: ar.j
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0169-7439
info:doi/10.1016/j.chemolab.2004.03.006
info:scp/4644282796