par Dehon, Gilles ;Bogaerts, Philippe ;Duez, Pierre ;Catoire, Laurent ;Dubois, Jacques
Référence Chemometrics and intelligent laboratory systems, 73, 2, page (235-243)
Publication Publié, 2004-10
Référence Chemometrics and intelligent laboratory systems, 73, 2, page (235-243)
Publication Publié, 2004-10
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Dehon, Gilles; Bogaerts, Philippe; Duez, Pierre; Catoire, Laurent; Dubois, Jacques |
Informations sur la publication: | Chemometrics and intelligent laboratory systems, 73, 2, page (235-243) |
Statut de publication: | Publié, 2004-10 |
Sujet CREF: | Sciences de l'ingénieur |
Mots-clés: | Comet assay/single cell gel electrophoresis |
Data modelling | |
DNA damage | |
Measurements | |
Statistics | |
Note générale: | SCOPUS: ar.j |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:0169-7439 |
info:doi/10.1016/j.chemolab.2004.03.006 | |
info:scp/4644282796 |