Curve fitting of combined comet intensity profiles: A new global concept to quantify DNA damage by the comet assay

Référence Chemometrics and intelligent laboratory systems, 73, 2, page (235-243)
Publication Publié, 2004-10

Article révisé par les pairs

Titre:	Curve fitting of combined comet intensity profiles: A new global concept to quantify DNA damage by the comet assay
Auteur:	Dehon, Gilles; Bogaerts, Philippe; Duez, Pierre; Catoire, Laurent; Dubois, Jacques
Informations sur la publication:	Chemometrics and intelligent laboratory systems, 73, 2, page (235-243)
Statut de publication:	Publié, 2004-10
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
Mots-clés:	Comet assay/single cell gel electrophoresis
	Data modelling
	DNA damage
	Measurements
	Statistics
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0169-7439
	info:doi/10.1016/j.chemolab.2004.03.006
	info:scp/4644282796

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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