par Scheid, Benoît
Référence (Du 21/9/2004 au 28/9/2004: Max-Planck-Institut Für Physik Komplexer Systeme, Dresden, Allemagne), International Workshop on Pattern Formation through Instabilities in Thin Liquid Films, From Fundamental Aspects to Applications
Publication Publié, 2004
Référence (Du 21/9/2004 au 28/9/2004: Max-Planck-Institut Für Physik Komplexer Systeme, Dresden, Allemagne), International Workshop on Pattern Formation through Instabilities in Thin Liquid Films, From Fundamental Aspects to Applications
Publication Publié, 2004
Abstract de conférence
Titre: |
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Auteur: | Scheid, Benoît |
Informations sur la publication: | (Du 21/9/2004 au 28/9/2004: Max-Planck-Institut Für Physik Komplexer Systeme, Dresden, Allemagne), International Workshop on Pattern Formation through Instabilities in Thin Liquid Films, From Fundamental Aspects to Applications |
Statut de publication: | Publié, 2004 |
Sujet CREF: | Sciences de l'ingénieur |
Langue: | Anglais |