par Chenakin, Sergiy
;Vasylyev, M.A.;Kruse, Norbert
;Tolstogourov, A.B.
Référence Surface and interface analysis, 38, 7, page (1164-1172)
Publication Publié, 2006-03-23


Référence Surface and interface analysis, 38, 7, page (1164-1172)
Publication Publié, 2006-03-23
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Autre titre: |
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Auteur: | Chenakin, Sergiy; Vasylyev, M.A.; Kruse, Norbert; Tolstogourov, A.B. |
Informations sur la publication: | Surface and interface analysis, 38, 7, page (1164-1172) |
Statut de publication: | Publié, 2006-03-23 |
Sujet CREF: | Chimie |
Chimie des solides | |
Physique des surfaces | |
Physique de l'état solide | |
Mots-clés: | amorphous alloy; XPS; ToF-SIMS; low temperature; segregation |
Note générale: | FLWIN |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:0142-2421 |
info:doi/10.1002/sia.2377 | |
info:scp/33748509032 |