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XPS and ToF-SIMS characterization of a Finemet surface: effect of cooling

par Chenakin, Sergiy ;Vasylyev, M.A.;Kruse, Norbert ;Tolstogourov, A.B.
Référence Surface and interface analysis, 38, 7, page (1164-1172)
Publication Publié, 2006-03-23

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Titre:	XPS and ToF-SIMS characterization of a Finemet surface: effect of cooling
Autre titre:	XPS and ToF-SIMS characterization of a Finemet surface: effect of cooling:
Auteur:	Chenakin, Sergiy; Vasylyev, M.A.; Kruse, Norbert; Tolstogourov, A.B.
Informations sur la publication:	Surface and interface analysis, 38, 7, page (1164-1172)
Statut de publication:	Publié, 2006-03-23
Sujet CREF:	Chimie
	Chimie des solides
	Physique des surfaces
	Physique de l'état solide
Mots-clés:	amorphous alloy; XPS; ToF-SIMS; low temperature; segregation
Note générale:	FLWIN
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0142-2421
	info:doi/10.1002/sia.2377
	info:scp/33748509032