Lab-on-chip tensile stages for nanomechanical testing and TEM analysis

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;Pardoen, Thomas ;Raskin, Jean-Pierre
Référence Microelectronic engineering
Publication A Paraître, s.d.

Article révisé par les pairs

Titre:	Lab-on-chip tensile stages for nanomechanical testing and TEM analysis
Auteur:	Boe, A.; Coulombier, M.; Colla, M.S.; Brugger, C.; Dille, Jean; Proost, Joris; Marechal, Raphaël; Pardoen, Thomas; Raskin, Jean-Pierre
Informations sur la publication:	Microelectronic engineering
Statut de publication:	A Paraître, s.d.
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0167-9317

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