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Statistical response of devices immersed in electromagnetic chaos

par De Doncker, Philippe ;Delangre, Olivier ;Meys, René ;Hélier, Marc;Tabbara, W
Référence (23-27 May, 2004: Pisa, Italy), URSI International Symposium on Electromagnetic Theory, URSI EMTS
Publication Publié, 2004

Publication dans des actes

• Détails

Titre:	Statistical response of devices immersed in electromagnetic chaos
Auteur:	De Doncker, Philippe; Delangre, Olivier; Meys, René; Hélier, Marc; Tabbara, W
Informations sur la publication:	(23-27 May, 2004: Pisa, Italy), URSI International Symposium on Electromagnetic Theory, URSI EMTS
Statut de publication:	Publié, 2004
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
	Technologie des télécommunications [télécommunications]
	Technologies de l'information et de la communication (TIC)
Langue:	Anglais