• Citer

Combination of instrumented nanoindentation and scanning probe microscopy for adequate mechanical surface testing

par Tam, Enrico ;Petrzhik, Mikhail M.;Shtansky, Dmitry D.;Delplancke, Marie-Paule
Référence Journal of Materials Science & Technology, 25, 1, page (63-68)
Publication Publié, 2009-01

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• Détails

Titre:	Combination of instrumented nanoindentation and scanning probe microscopy for adequate mechanical surface testing
Auteur:	Tam, Enrico; Petrzhik, Mikhail M.; Shtansky, Dmitry D.; Delplancke, Marie-Paule
Informations sur la publication:	Journal of Materials Science & Technology, 25, 1, page (63-68)
Statut de publication:	Publié, 2009-01
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
Mots-clés:	Coatings
	Nanoindentation
	Scanning probe microscopy
	Thin films
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:1005-0302
	info:scp/60949084267