par Dehaeck, Sam
;Wylock, Christophe
;Kamrak, Juthamas
;Haut, Benoît
;Colinet, Pierre 
Référence 12ème Congrès Francophone de Techniques Laser (CFTL-2010)(14-17 septembre 2010: Vandoeuvre-lès-Nancy, France), Actes du 12ème Congrès Francophone de Techniques Laser (CFTL 2010), Association Francophone de Vélocimétrie Laser, Vandoeuvre-lès-Nancy, page (85-92)
Publication Publié, 2010-09-14
;Wylock, Christophe
;Kamrak, Juthamas
;Haut, Benoît
;Colinet, Pierre 
Référence 12ème Congrès Francophone de Techniques Laser (CFTL-2010)(14-17 septembre 2010: Vandoeuvre-lès-Nancy, France), Actes du 12ème Congrès Francophone de Techniques Laser (CFTL 2010), Association Francophone de Vélocimétrie Laser, Vandoeuvre-lès-Nancy, page (85-92)
Publication Publié, 2010-09-14
Publication dans des actes
| Titre: |
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| Auteur: | Dehaeck, Sam; Wylock, Christophe; Kamrak, Juthamas; Haut, Benoît; Colinet, Pierre |
| Informations sur la publication: | 12ème Congrès Francophone de Techniques Laser (CFTL-2010)(14-17 septembre 2010: Vandoeuvre-lès-Nancy, France), Actes du 12ème Congrès Francophone de Techniques Laser (CFTL 2010), Association Francophone de Vélocimétrie Laser, Vandoeuvre-lès-Nancy, page (85-92) |
| Statut de publication: | Publié, 2010-09-14 |
| Sujet CREF: | Sciences de l'ingénieur |
| Techniques d'imagerie et traitement d'images | |
| Génie chimique | |
| Langue: | Français |
| Identificateurs: | urn:isbn:978-2-9537649-0-1 |



