par Dehaeck, Sam
;Wylock, Christophe
;Kamrak, Juthamas
;Haut, Benoît
;Colinet, Pierre 
Référence 12ème Congrès Francophone de Techniques Laser (CFTL-2010)(14-17 septembre 2010: Vandoeuvre-lès-Nancy, France), Actes du 12ème Congrès Francophone de Techniques Laser (CFTL 2010), Association Francophone de Vélocimétrie Laser, Vandoeuvre-lès-Nancy, page (85-92)
Publication Publié, 2010-09-14





Référence 12ème Congrès Francophone de Techniques Laser (CFTL-2010)(14-17 septembre 2010: Vandoeuvre-lès-Nancy, France), Actes du 12ème Congrès Francophone de Techniques Laser (CFTL 2010), Association Francophone de Vélocimétrie Laser, Vandoeuvre-lès-Nancy, page (85-92)
Publication Publié, 2010-09-14
Publication dans des actes
Titre: |
|
Auteur: | Dehaeck, Sam; Wylock, Christophe; Kamrak, Juthamas; Haut, Benoît; Colinet, Pierre |
Informations sur la publication: | 12ème Congrès Francophone de Techniques Laser (CFTL-2010)(14-17 septembre 2010: Vandoeuvre-lès-Nancy, France), Actes du 12ème Congrès Francophone de Techniques Laser (CFTL 2010), Association Francophone de Vélocimétrie Laser, Vandoeuvre-lès-Nancy, page (85-92) |
Statut de publication: | Publié, 2010-09-14 |
Sujet CREF: | Sciences de l'ingénieur |
Techniques d'imagerie et traitement d'images | |
Génie chimique | |
Langue: | Français |
Identificateurs: | urn:isbn:978-2-9537649-0-1 |