par Debeir, Olivier ;Van Den Steen, Isabelle ;Latinne, Patrice ;Wolff, Eléonore ;Van Ham, Philippe
Référence Photogrammetric engineering and remote sensing, 68, 6, page (597-605)
Publication Publié, 2002-06-01
Référence Photogrammetric engineering and remote sensing, 68, 6, page (597-605)
Publication Publié, 2002-06-01
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