par Debeir, Olivier
;Van Den Steen, Isabelle
;Latinne, Patrice
;Wolff, Eléonore
;Van Ham, Philippe 
Référence Photogrammetric engineering and remote sensing, 68, 6, page (597-605)
Publication Publié, 2002-06-01





Référence Photogrammetric engineering and remote sensing, 68, 6, page (597-605)
Publication Publié, 2002-06-01
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