• Citer

In-depth Analysis / Methods for Depth Profiling

par Reniers, François
Editeur scientifique Rivière, John C.;Myhra, Sverre;Dekker, Marcel
Référence Handbook of Surface and Interface Analysis, Marcel Dekker Inc, page (255-295)
Publication Publié, 1998

Partie d'ouvrage collectif

• Détails

Titre:	In-depth Analysis / Methods for Depth Profiling
Auteur:	Reniers, François
Editeur scientifique:	Rivière, John C.; Myhra, Sverre; Dekker, Marcel
Informations sur la publication:	Handbook of Surface and Interface Analysis, Marcel Dekker Inc, page (255-295)
Statut de publication:	Publié, 1998
Sujet CREF:	Chimie analytique
	Chimie des surfaces et des interfaces
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:isbn:9780824700805