• Citer

In-depth Analysis / Profiling

par Reniers, François ;Tewell, Craig
Editeur scientifique Rivière, John C.;Myhra, Sverre
Référence Handbook of Surface and Interface Analysis, Methods for Problem-Solving : Second edition, CRC Press, page (281-318)
Publication Publié, 2009

Partie d'ouvrage collectif

• Détails

Titre:	In-depth Analysis / Profiling
Auteur:	Reniers, François; Tewell, Craig
Editeur scientifique:	Rivière, John C.; Myhra, Sverre
Informations sur la publication:	Handbook of Surface and Interface Analysis, Methods for Problem-Solving : Second edition, CRC Press, page (281-318)
Statut de publication:	Publié, 2009
Sujet CREF:	Chimie analytique
	Chimie des surfaces et des interfaces
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:isbn:9780849375583