par Hou, Marc ;Delavignette, Pierre ;Art, Albert
Référence Physica Status Solidi A, 46, page (167-169)
Publication Publié, 1976
Article révisé par les pairs
Titre:
  • Detection of Implanted Ions by X-Ray Emission Analysis in TEM
Auteur:Hou, Marc; Delavignette, Pierre; Art, Albert
Informations sur la publication:Physica Status Solidi A, 46, page (167-169)
Statut de publication:Publié, 1976
Sujet CREF:Physique
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:E225375
mho-0006

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