par Teloi, Mayana 
;Lakkis, Mouhamad Haidar ;Amorosi, Anthony ;Antoni-Micollier, Laura;Janvier, Camille;Ménoret, Vincent;Vermeulen, Pierre;Rosenbusch, Peter;Collette, Christophe
Référence IEEE instrumentation & measurement magazine, 27, 6, page (40-45)
Publication Publié, 2024-04-01
;Lakkis, Mouhamad Haidar ;Amorosi, Anthony ;Antoni-Micollier, Laura;Janvier, Camille;Ménoret, Vincent;Vermeulen, Pierre;Rosenbusch, Peter;Collette, Christophe Référence IEEE instrumentation & measurement magazine, 27, 6, page (40-45)
Publication Publié, 2024-04-01
Article révisé par les pairs
| Titre: |
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| Auteur: | Teloi, Mayana; Lakkis, Mouhamad Haidar; Amorosi, Anthony; Antoni-Micollier, Laura; Janvier, Camille; Ménoret, Vincent; Vermeulen, Pierre; Rosenbusch, Peter; Collette, Christophe |
| Informations sur la publication: | IEEE instrumentation & measurement magazine, 27, 6, page (40-45) |
| Statut de publication: | Publié, 2024-04-01 |
| Sujet CREF: | Instrumentation et méthodes en physique |
| Electronique et électrotechnique | |
| Sciences de l'ingénieur | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:1094-6969 |
| info:doi/10.1109/MIM.2024.10654733 | |
| info:scp/85202837544 |
