par Jaiswar, R.;Mederos-Henry, Francisco
;Dupont, V.;Hermans, Sophie;Raskin, Jean-François
;Huynen, Isabelle
Référence Journal of materials science. Materials in electronics, 31, 3, page (2190-2201)
Publication Publié, 2020-02-01
;Dupont, V.;Hermans, Sophie;Raskin, Jean-François
;Huynen, IsabelleRéférence Journal of materials science. Materials in electronics, 31, 3, page (2190-2201)
Publication Publié, 2020-02-01
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Jaiswar, R.; Mederos-Henry, Francisco; Dupont, V.; Hermans, Sophie; Raskin, Jean-François; Huynen, Isabelle |
| Informations sur la publication: | Journal of materials science. Materials in electronics, 31, 3, page (2190-2201) |
| Statut de publication: | Publié, 2020-02-01 |
| Sujet CREF: | Sciences de l'ingénieur |
| Sciences exactes et naturelles | |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0957-4522 |
| info:doi/10.1007/s10854-019-02751-6 | |
| info:pii/2751 |



