par Clerbaux, Barbara ;Hang, Shuang;Petitjean, Pierre-Alexandre ;Wang, Peng;Yifan, Yang
Référence IEEE transactions on nuclear science, 68, 8, page (2121-2126)
Publication Publié, 2021-08-01
Article révisé par les pairs
Titre:
  • Automatic Test System of the Back-End Card for the JUNO Experiment
Auteur:Clerbaux, Barbara; Hang, Shuang; Petitjean, Pierre-Alexandre; Wang, Peng; Yifan, Yang
Informations sur la publication:IEEE transactions on nuclear science, 68, 8, page (2121-2126)
Statut de publication:Publié, 2021-08-01
Sujet CREF:Physique des particules élémentaires
Mots-clés:Automatic test
back-end card (BEC)
field-programmable gate array (FPGA)
global control unit (GCU)
Jiangmen Underground Neutrino Observatory (JUNO)
trigger and timing (TTIM)
Note générale:SCOPUS: ar.j
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0018-9499
info:doi/10.1109/TNS.2021.3085369
info:scp/85107376879