Titre:
  • Characterization at high spatial and angular resolutions of deformed nanostructures by on-axis HR-TKD
Auteur:Ernould, Clément; Beausir, Benoît; Fundenberger, Jean-Jacques; Taupin, Vincent; Bouzy, Emmanuel
Informations sur la publication:Scripta materialia, 185, page (30-35)
Statut de publication:Publié, 2020-08-01
Sujet CREF:Sciences de l'ingénieur
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:1359-6462
info:doi/10.1016/j.scriptamat.2020.04.005
info:pii/S1359646220302104