par Oftes, Fenno F.P.;Martens, Frans F.J.;Schulz, Carl C.A.;Toussaint, Pieter;Van Den Broeck, Richard 
;Rechid, Renas;Bakker, Albert A.R.
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2165, page (208-215)
Publication Publié, 1994-05
;Rechid, Renas;Bakker, Albert A.R.Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2165, page (208-215)
Publication Publié, 1994-05
Article révisé par les pairs
| Titre: |
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| Auteur: | Oftes, Fenno F.P.; Martens, Frans F.J.; Schulz, Carl C.A.; Toussaint, Pieter; Van Den Broeck, Richard; Rechid, Renas; Bakker, Albert A.R. |
| Informations sur la publication: | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2165, page (208-215) |
| Statut de publication: | Publié, 1994-05 |
| Sujet CREF: | Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] |
| Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
| Physique de l'état condense [supraconducteur] | |
| Physique de l'état solide | |
| Métallurgie | |
| Electronique et électrotechnique | |
| Mathématiques | |
| Informatique appliquée logiciel | |
| Note générale: | SCOPUS: cp.p |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0277-786X |
| info:doi/10.1117/12.174304 | |
| info:scp/84887663905 |
